RF 产品高温动作寿命测试测试介绍
RF 产品高温动作
寿命试验RF 产品高温动作寿命测试（RF High Temperature Operating Life Test ）
科尔泰可通过宽带高功率放大器支持不同频率和功率的 RF 寿命试验。
技术介绍
RF产品高温动作寿命试验是？
一般半导体芯片的寿命试验是在高温环境下评估工作寿命的 HTOL(JESD22-A108)试验。
一般半导体芯片只需施加电(DC) 信号即可，但 RF 产品为了模拟真实的使用环境，需要施加 RF 信号。
科尔泰可通过宽带高功率放大器支持不同频率和功率的 RF 寿命试验。
同时，可通过 Chip Operation 专家咨询，实现 Dynamic 工作条件，并通过 Mornitoring System 实时监测 RF 芯片状态。
High Temperature Operationg Life Test and Function Test sequence
除了老化试验, 还可以直接测量 RF 关键特性, 判断被测产品的 Pass/ Fail。
RF-Measurement Item
• S-parameter analysis
S参数，也就是散射参数，是对进入被测器件(DUT)的散射电压波与入射电压波之比的度量。
科尔泰可通过S参数的自动控制程序，测量各种条件的S参数。
• IP3
IP3 是指第三次互调失真拟合线性的截止点，是衡量模拟电路线性度的重要指标。
IM3 是指输入的第三次互调失真，一般是指输入到混频器中的两个信号产生的旁带波。
科尔泰可通过测量 Two tone 以上信号中产生的 IM3 成分，测量出 IP3 截止点。
• P1dB, P3dB
通过自动控制程序，可以更加准确的测量放大器的 1dB 压缩点(线性动态范围的重要参数)和 P3dB(3分贝压缩输出功率)。
• Noise Figure
噪声系数(NF)是衡量线性电路(如放大器)或系统(如接收机)内部噪声大小的量度。通过使用高性能测量仪，提供更加准确的测量结果。
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