IV曲线测试（IV Curve) 测试介绍
IV曲线测试（IV Curve)
测量样品的电性并分析电性不良模式
测试介绍
用于测量样品的电性并分析开路、短路及高/低漏电的不良模式。可承受的最高电压为40V, 最高电流为100mA。因根据测量的电性不良模式来确定分析步骤及分析设备，故此项测试是非破坏及破坏分析前的重要分析项目。
适用技术
IC Discrete & Passive Component Curve Tracing，IV Curve Measurement
案例展示
Electrical Failure Mode
IV Curve Measurement for Failure Analysis
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