高/低温寿命测试（HTOL/LTOL） 测试介绍
高/低温寿命测试
（HTOL/LTOL)高温工作寿命测试
早期寿命不良率
测试介绍
半导体产品不良的时间分布一般通过"盆浴（Bathtub Curve）"曲线来表现。曲线由三个不同的要素组成，分为急剧下降的"早期失效（infant mortality）"和稳定而实用的寿命部分（即不良率持续下降或相当稳定部分）-> 偶发故障期（故障率较低且稳定，甚至基本保持不变），以及随着出现故障（wear out)特性造成不良品率增加的区间。评估早期失效（Infant mortality）区间的不良率可区分为早期生命失效率(Early Life Failure Rate)简称ELFR，与评估其从实际使用期间到故障发生的质量的测试 高温工作寿命 (High Temperature Operating Life),简称HTOL。HTOL测试在半导体可靠性方面是必测项目，通常需满足10年以上的使用寿命。
适用技术
高温(低温)工作寿命测试是为了预估半导体的寿命而被开发，目前被用于qualification项目中，目的是为了在给予一定的stress状态下暴露1000小时(换算成终端用户环境时,等同于约10年的时间)期间内,确认其是否能正常工作。
数据示例
电子元器件寿命曲线
| 参考规格 | |
| JESD22-A108G:2022 | AEC-Q100-REV-J:2023；Table 2,Test group B1,HTOL |
| AEC-Q104-Rev:2017；Table 1,Test group B1,HTOL | AEC-Q200-Rev-E:2023；Table 6 No.8 |
| AEC-Q200-Rev-E:2023；Table13 No. | MIL-STD-202H:2015；Method 108 |
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