静电枪测试（GUN-ESD）测试介绍
静电枪测试（GUN-ESD）
模拟静电放电事件，帮助评估设备对静电的敏感性和抗扰度
测试介绍
IC Level和System Level使用相同的HBM，但为了减少混乱，Module Level(半成品)和Set Level ESD试验被区分为Gun ESD与System Level ESD。相关标准为IEC 61000-4-2(国内标准KC61000-4-2)。
半导体主要适用于MIL,JEDEC, AEC发行的标准，可使用自动化设备评估所有PIN；一般(消费者/商用)产品(相关标准:IEC 61000 - 4 - 2)及车载电子元器件(相关标准:ISO 10605)可使用GUN-ESD设备，对厂商指定的Point施加应力，评估其耐性水平。
适用技术
Module Level, System Set Level,半导体（Memory, System IC), 分立器件（Discrete IC）, Passive器件
案例
