早期寿命失效率（ELFR）测试介绍
早期寿命失效率
（ELFR）早起寿命失效率试验是一种发现和消除半导体早期寿命阶段潜在缺陷的可靠性评估方法
作为制造过程中质量改善和最终产品可靠性保证的必备试验，为确保早期质量指数
本试验在汽车、工业、消费电子等高可靠性应用领域中尤为重要
ELFR试验基于半导体故障率随时间变化的寿命缺陷（浴缸曲线，Bathtub Curve)设计。
| 区分 | 早期故障寿命阶段 | 正常寿命阶段 | 磨损阶段 |
|---|---|---|---|
| 试验目的 | - 早期缺陷探测与消除 | - 稳定性能保持 | - 产品预期寿命预测 |
| - 早期不良率 (PPM) 降低 | - 确认长期数据的完整性和可靠性 | - 分析使用环境中的性能老化 | |
| 管理方案 | - 导入高质量制造工程 | - 使用高质量原材料 | - 寿命预测模型的应用 |
| - ELFR 试验和早期故障原因分析 | - 持续性的监督和可靠性试验 | - 符合使用条件的应力试验 |
ELFR(Early Life Failure Rate)试验中决定试验样品数量对于确保统计准确性和可靠性至关重要。如样品数量设置不当，试验结果可能不可靠或导致过高成本。
目标 FPM(Failure per Million) 和置信水平(Confidence Level)的ELFR试验数量计算方法
置信水平( Confidence Level):意为试验结果的信任度, 通常设定为 60 %。
FPM 不良率目标 (Target Failure Rate)可接受的早期寿命不良率 (如: 100 FPM)为基准。
| 参考规格 | ||
| JESD47 | JESD74 | AEC-Q100 |
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