高温存储测试（HTS）测试介绍
高温存储测试
评估在特定的温度长时间贮存的可靠性影响，运用于可靠性试验前处理
测试介绍
高温存储测试是评估在长时间高温贮存期间产品会受到怎样的影响的一款试验。其不适用于Electrical stress，类似于Stabilization Bake (Mil-Std-883 Method 1008)试验，但HTS试验需要的时间更长(Stab Bake:24 h @ 150°C)。另外，Stabilization Bake用作screen作用或其它试验的precondition，反之另一个目的是通过HTS试验评估产品长时间的可靠性。低温存储(LTS)试验也是具有相同目的的试验，不同点是其使用低温条件。
适用技术
作为在产品组装工序前处于配件状态，或组装后产品内部的element （元器件）状态下，评估长时间高温贮存时，有什么影响的一款测试项目。
| 参考规范 | |
|---|---|
| 高温存储寿命测试 HTS | |
| JESD22-A103E.01:2021 | AEC-Q100-REV-J:2023；Table 2,Test group A6,HTSL |
| AEC-Q104-Rev:2017；Table 1,Test group A6,HTSL | AEC-Q200-Rev-E:2023；Table 6 No.3 |
| AEC-Q200-Rev-E:2023；Table13 No.3 | MIL-STD-202H:2015；Method 108 |
| AEC-Q006-Rev-A:2016；Table 3a | |
| 低温存储 LTS | |
| JESD22-A119A:2015 | |
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