QRT LTS-RF (Lifetime Test System for RF Device)
01. 随着5G通信应用于各个领域(自主行驶、智能工厂等)，短暂的通信中断也可能造成严重后果。
02. 为防止短期通信中断，通信设备的半导体寿命评估至关重要。
03. 半导体寿命预测有两种可靠性测试方案：HTOL(高温工作寿命测试) 和 ALT(加速寿命测试)。
04. 进行半导体寿命测试时，为了模拟通信用设备的实际工作环境，必须施加射频(RF) 信号作为压力因子。
05. 对比施加RF信号和没有施加RF信号的测试，寿命预测结果会存在差异。通常施加RF信号的测试，产品寿命会缩短。 因为当施加RF应力时，射频器件的退化机制会发生变化。
06. RF设备寿命评估的JEDEC标准可参考JEP-118、JESD-226 和 JESD-237。
07. QRT的RF分析系统提供简单高效的测试方案，为您节省时间和费用。
Device Qualification Requirements
| Type | Stress | Standard Reference | Abbr | Test Conditions | Requirements | |
|---|---|---|---|---|---|---|
| # of lots / Sample Size per lot | Duration / Acceptance | |||||
| Type | RF Biased Life Test | JESD226 | RFBL | Tj≥125℃ | 3 lots / 76 units | 1000 hrs / 0 fail |
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