SEE分析系统-无锡科尔泰检测技术有限公司

SEE（Single Event Effect）系统

QRT SEE 分析系统是在加速放射源设施的特殊环境下, 评估各种半导体产品软错误的通用系统。

考虑全球范围的辐射加速设施, QRT SEE 系统组件了简易的测量环境 , 确保辐射对系统的稳定性, 并通过实时远程操作和控制系统，确保使用者的便利性。

QRT SEE 分析系统通过在多个设施中分析积累的大量数据，提高软件错误检测的准确性，可用于认证评价、早期验证和薄弱点分析。

系统构成

SEE系统由可扩展的主体和多种功能模块组成，可根据用户的需求对 Memory、 System IC、 Power IC、 SSD 等各类产品进行评估。

半导体产品的类型和接口具有多样性，不同客户会有新的要求，我们可根据客户要求开发和更新功能模块，持续扩大SEE系统的通用性。

机框(Chassis)

• 功能模块电源控制和统一管理

• 系统放热, 通信BUS管理

功能模块

• 生成半导体工作电源, I/O信号

• 各功能模块可独立运行

放射剂量板(Dosimetry)

• 实时监控辐射光束

• 校正均衡度, 提高测量准确性

UTT 板 (Unit Under Test)

• 被测半导体安装在UUT板上

• 兼容全球各辐射加速器设施

控制系统

• 远程操作和控制系统

• GUI实时数据监控和记录

主要功能

" 通过QRT SEE分析系统实现认证目标。"
通过SEE评估系统确认半导体是否符合行业标准。
我们的SEE系统设计符合JEDEC标准, 包括完全遵守放射线检查规定的标准识别技术。
通过该系统，可以正确、有效的方法，便于进行产品认证。
如果您相信我们系统的品质和可靠性，可以实现成功的认证过程。

" 可以有效地识别多个候选样品中最优秀的产品。"
简化软件错误缓解流程，支持客户的信息化决策。
该解决方案可以对您的产品、竞争公司的产品或参考用产品等多种样品进行比较评估。
该评估可以使用多个不同的放射束源进行，通过更高效、有效的评估过程，节省客户的时间和费用。

" 请通过我司系统验证批量生产前产品，享受成功量产。"
可以通过该系统引领变化，推进可行性决策。
在产品开发阶段，对产品进行事前验证，确认量产准备状态。
可提供有助于改善错误率的信息，以高度的事前评价及验证解决方案，帮助客户安心的进行验证。

" 请通过我司辐射检查，优化潜在的危险要素。"
通过系统可以确保准确、全面的结果。
该解决方案可以控如 SEL、SEBO 能源等主要的 SEE 特性，并验证辐射的容许误差和临界条件。
通过高阶验证程序，可帮助客户做出基于信息的决策，改善评价过程。
QRT还提供其他相关测试服务，如更高阶 SEBO FA 和基于 TPA 的 SEE 分析。

" 通过 QRT 可了解 RMA、NTF 和 Burn out 不良的根本原因。"
对于高纬度的数据中心来说，通常更容易受到高能中子造成的 NTF 和 CND 等不良影响。
我们的系统中保留了复现和分析这些缺陷的根本原因的过程，可以有效诊断 NTF、SEFI 和 SEL 缺陷并提供改善措施。
通过相关功能，客户可以在现场管理和缓解 RMA，保证客户的满意度。

优秀应用成果

QRT通过先进的SEE分析系统，为韩国加速设施进行了标准制定，并与LANL/TRIUMF及其他海外加速设施进行联合研发，被公认为最佳实践标准设备。

我们不断突破辐射测试技术的界限，并积极致力于为所有辐射测试设施建立公认的验证标准。

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