QRT RF 分析系统 Q-LTS-RF 测试介绍
RF 寿命评估系统支持 RF-HTOL (高温工作寿命测试）和RF-ALT (加速寿命测试）测试, 以评估射频无线设备的寿命。
系统可以对所有DUTs(被测器件) 施加个别的RF应力， 并在每个DUT中实时监测RF参数的退化特性。为了进行类似的RF寿命测试，我们不再需要浪费时间搭建复杂的测试环境，也不需要外接其他测量设备。
系统可以对每个DUT在没有大型Chamber的前提下, 施加热应力。
各种应力测试条件可同时应用于每个DUT。系统可以对所有试验条件及控制功能进行实时自动管理。
系统所有功能可远程控制，实现整个测试流程自动化。
系统配有 QRT自研寿命分析软件，根据射频寿命测试期间收集的数据进行使用寿命分析。
系统配置系统
动态加速系统
• RF Generation Unit(RGU) : 向每 个DUT 提供 RF 输入功率
• RF Detection Unit(RDU) : 监测每个 DUT 的 RF 输出功率
静态加速系统
• Static Acceleration Unit(SAU) ：各 DU T的 DC 供电及温度控制
系统运行 SW
• 调整每个DUT的加速应力条件
• RF 校准 • 实时监控
寿命分析 SW
• 数据分类 • 使用寿命预测
• 最佳分布函数 • 活化能
主要应用方案
Specification
| Specification List | Unit | Q-LTS-RF | Remark |
|---|---|---|---|
| 施加应力 | - | RF , Temperature, Voltage, Current | |
| RF 频率 | GHz | 0.6-6 27-32 | 可定制化 |
| RFU 输出（DUT 输入） | dBm | Typ. +33 | |
| RFU 输出精度 | dB | ±0.5 | |
| RF 谐波 | dBc | Max. -25 | |
| RF 动态范围 | dB | Min. 25 | |
| 监测参数 | - | RF input & output Power, Temperature, Voltage, Current | 每个DUT 可根据客户需求设定 |
| 监测精度 | dB | ±0.3 | |
| 监测范围（DUT 输出） | dBm | up to 43 | per DUT |
| 同测 DUTs | EA | 40 Scalable | per System |
| 温度控制范围及精度 | ℃ | 50~200 +/-2 | 每个 DUT 可调节 （Chamber less） |
| 温度变化率 | ℃/min | Min.3 | |
| 电压调节范围 | V | Up to 28 Up to 50 Fixed -10 | 5 CHs per DUT |
| 电源供应 | W | Typ. 100 | per DUT |
| 寿命预测软件 | - | 自动寿命预测软件 | 可定制化 |
| - | 按退化趋势对数据进行分类 数据服务器互通 通过设置退化基准自动收集故障寿命 推荐最佳分布 自动估算使用条件下的产品寿命 导出激活能 计算加速系数 创建压力加速模型 推算保证寿命 自动生成报告 | 可定制化 |
