电磁兼容测试（IC-EMC）测试介绍
电磁兼容测试（IC-EMC）
TEM Cell 试验是一种电磁兼容性 (EMC)评估而设计的标准试验方法,用于测量集成电路（IC)的电磁辐射 (EMI)和敏感度特性。该试验利用横电磁波室TEM Cell(Transverse Electromagnetic Cell)这种特殊结构的屏蔽室, 精确地分析出IC产生的电磁辐射 EMI(Electromagnetic Interference) 和外部电磁信号对周边电路带来的反应
相关设备
TEM cell(150 kHz to 1GHz)
| 参考规范 | AEC-Q100, IEC61967-02, SAE1752-3 | |
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