2D X-ray测试介绍
实时二维X射线测试
透过X射线非破坏检测样品内部的测试
测试介绍
X射线是一种波长较短的光纤，因其能量大，易透过物质，利用透射时物质的密度及组成透过率不同的原理，X射线测试广泛应用于非破坏检测。即利用X射线透射样品，无损检测样品内部。不仅可以确认打线及引线框架的形态及不良形态，还可以确认印刷电路板中使用的铜线和PTH是否存在异常。除此之外，还可确认焊球的VIOD分布程度及SMT级别有无非破坏性的焊接异常。
适用技术
Non-Destructive Failure Analysis, Component and Printed Circuit Board Internal Structure Inspection, Solder Void Measurement
案例展示
