Conterfeit Analysis测试介绍
Conterfeit Analysis
半导体IC假冒伪劣产品识别分析
测试介绍
通过与正品进行外观,X-ray,去层等分析判断是否是IC的仿制品及衍生品的分析
适用技术
半导体IC假冒伪劣产品识别
案例展示



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半导体IC假冒伪劣产品识别分析
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通过与正品进行外观,X-ray,去层等分析判断是否是IC的仿制品及衍生品的分析
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